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美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統，用于測量大面積光學材料，如用于LCD...

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QptLuxSD是一款創新性的光學表面瑕疵檢測，具備高重復性和準確性，系統根據設定的檢驗標準自動生成詳細的通過/失敗報告，與光學行業現在很多的具有很強主觀性的人工檢驗以及其他手動檢驗設備相比，提供光學...

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該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論...

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150AT 應力雙折射系統是Hinds應力雙折射測量系統家族系列產品，用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多...

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BEAMAGE系列光束質量分析儀分析激光光束是對其功率或能量測量的一種方便補充，因為光束質量分析儀提供了非常有用的附加信息，如空間能量或強度分布、光束寬度、質心、橢圓度和方向，可以幫助您確定您的激光系...

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美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力。Exicor系統的高靈敏度是Hinds...

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光學玻璃應力測量占地小-大限度地減少設備所需的工廠空間；平臺設計-使可測量面積盡可能大；強大的自動化-質量階段和硬件正常運行時間。

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UP19-W 系列功率測量,熱電堆只是一系列熱電偶串聯連接并相互靠近。常見的應用是當施加電壓以冷卻熱電堆的一側以及它所粘合的任何一側時。然而，激光功率測量熱電堆用途相反。即，使用溫度差制造電壓。一側的...

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Gentec-EO功率計和能量計在這個領域擁有超過45年的歷史。 Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP19-H系列通用寬帶譜平面功率探頭，UP19-VR系列特定UV和IR波段的高峰值功率脈...

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